全自动测厚仪MX1100

技术规格 

操作模式:

单机试验 / 联机试验

样品材料:

所有薄片状材料

测量范围（选择其一）: 

0 - 50 mil, 0 - 100 mil, 0 - 200 mil, 0 - 300 mil
0 -1270 um, 0 - 2540 um
0 - 5080 um, 0 - 7620 um  
订做其他测量范围，请在订购时说明

分辨率:

0.01 mil （0.1 um） （0.0001 mm）

精度:

±0.02 mils （±0.50 um） （±.0005 mm） / （±20 microinch）

平行距离:

±40 microinches或以上 （±1.0 micron 或以上）

测量头尺寸:

0.188 inch 直径 （4.3 mm直径） （薄膜） / 0.628 inch直径 （15.9 mm 直径） （纸张r）

测量头压力: 

4.0 - 8.0 psi （0.562 kg/cm2）（薄膜） / 7.3 psi （0.513 kg/cm2） （纸张）

测量频率: 

可达到 60次/分钟

zui低速率:

0.040 inch/sec. （1mm / sec） （纸张）

响应时间:

3 ± 1 seconds

驱动:

N/A

数据显示:

厚度数据

数据输出:

RS-232接口可连打印机或电脑