全自动测厚仪MX1100

用于测量薄膜和纸张厚度的全自动测厚仪
符合 ASTM D 374, TAPPI T-411, BS 2782-6, DIN 53370等标准

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全自动测厚仪

型号：MX1100

用于测量薄膜和纸张厚度的全自动测厚仪

符合 ASTM D 374, TAPPI T-411, BS 2782-6, DIN 53370等标准

操作简单
3种操作模式：可作为独立手动系统操作；也可通过打印机，打印出测试结果；或者与软件连接，自动生成图表和统计数据。

多点测试和分析
MX1100通过测量头做多点测试，也可以自动循环升降做单点测试。，其他型号可进行多点或单点测试来满足抽样调查和概要分析。

实惠的价格

MX系列产品物美价廉，性价比高

行业的升级版软件
选配的软件，内置打印机，电脑系统都是可升级的。打印机适用于在数显或软件模式下操作。自带Windows™ 95/98/NT/2000/XP系统的软件能够自动生成统计报告和图表分析，包括极大值，极小值，平均值，标准差，计数值。

技术规格
操作模式:	单机试验 / 联机试验
样品材料:	所有薄片状材料
测量范围（选择其一）:	0 - 50 mil, 0 - 100 mil, 0 - 200 mil, 0 - 300 mil 0 -1270 um, 0 - 2540 um 0 - 5080 um, 0 - 7620 um 订做其他测量范围，请在订购时说明
分辨率:	0.01 mil （0.1 um）（0.0001 mm）
精度:	±0.02 mils （±0.50 um）（±.0005 mm） / （±20 microinch）
平行距离:	±40 microinches或以上（±1.0 micron 或以上）
测量头尺寸:	0.188 inch 直径（4.3 mm直径）（薄膜） / 0.628 inch直径（15.9 mm 直径）（纸张r）
测量头压力:	4.0 - 8.0 psi （0.562 kg/cm2）（薄膜） / 7.3 psi （0.513 kg/cm2）（纸张）
测量频率:	可达到 60次/分钟
zui低速率:	0.040 inch/sec. （1mm / sec）（纸张）
响应时间:	3 ± 1 seconds
驱动:	N/A
数据显示:	厚度数据
数据输出:	RS-232接口可连打印机或电脑