全自动测厚仪 型号：MX1100
用于测量薄膜和纸张厚度的全自动测厚仪 符合 ASTM D 374, TAPPI T-411, BS 2782-6, DIN 53370等标准 操作简单
3种操作模式：可作为独立手动系统操作；也可通过打印机，打印出测试结果；或者与软件连接，自动生成图表和统计数据。 多点测试和分析
MX1100通过测量头做多点测试，也可以自动循环升降做单点测试。，其他型号可进行多点或单点测试来满足抽样调查和概要分析。 实惠的价格 MX系列产品物美价廉，性价比高 行业的升级版软件
选配的软件，内置打印机，电脑系统都是可升级的。打印机适用于在数显或软件模式下操作。自带Windows™ 95/98/NT/2000/XP系统的软件能够自动生成统计报告和图表分析，包括极大值，极小值，平均值，标准差，计数值。 | 技术规格 | | 操作模式: | 单机试验 / 联机试验 | | 样品材料: | 所有薄片状材料 | | 测量范围（选择其一）: | 0 - 50 mil, 0 - 100 mil, 0 - 200 mil, 0 - 300 mil
0 -1270 um, 0 - 2540 um
0 - 5080 um, 0 - 7620 um
订做其他测量范围，请在订购时说明 | | 分辨率: | 0.01 mil （0.1 um） （0.0001 mm） | | 精度: | ±0.02 mils （±0.50 um） （±.0005 mm） / （±20 microinch） | | 平行距离: | ±40 microinches或以上 （±1.0 micron 或以上） | | 测量头尺寸: | 0.188 inch 直径 （4.3 mm直径） （薄膜） / 0.628 inch直径 （15.9 mm 直径） （纸张r） | | 测量头压力: | 4.0 - 8.0 psi （0.562 kg/cm2）（薄膜） / 7.3 psi （0.513 kg/cm2） （纸张） | | 测量频率: | 可达到 60次/分钟 | | zui低速率: | 0.040 inch/sec. （1mm / sec） （纸张） | | 响应时间: | 3 ± 1 seconds | | 驱动: | N/A | | 数据显示: | 厚度数据 | | 数据输出: | RS-232接口可连打印机或电脑 | |
